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电阻器常见的失效方法与失效机理
已有 24 次阅读|0个评论|来源:|2018-07-04 21:58:13

   失效方法:各种失效的现象及其体现的方法。

  失效机理:是导致失效的物理、化学、热力学或其他进程。

 电阻器的首要失效方法与失效机理为

  1)开路:首要失效机理为电阻膜烧毁或大面积掉落,基体开裂,引线帽与电阻体掉落。

  2)阻值漂移超规范:电阻膜有缺点或退化,基体有可动钠离子,保护涂层不良。

  3)引线开裂:电阻体焊接工艺缺点,焊点污染,引线机械应力损害。

  4)短路:银的迁移,电晕放电。

失效机理剖析

  电阻器失效机理是多方面的,作业条件或环境条件下所发作的各种理化进程是引起电阻器老化的原因。

  (1)、导电资料的结构改动

  薄膜电阻器的导电膜层一般用汽相淀积办法获得,在必定程度上存在无定型结构。按热力学观念,无定型结构均有结晶化趋势。在作业条件或环境条件下,导电膜层中的无定型结构均以必定的速度趋向结晶化,也即导电资料内部结构趋于细密化,能常会引起电阻值的下降。结晶化速度随温度升高而加快。

  电阻线或电阻膜在制备进程中都会承受机械应力,使其内部结构发作畸变,线径愈小或膜层愈薄,应力影响愈明显。一般可采用热处理办法消除内应力,剩余内应力则可能在长期运用进程中逐渐消除,电阻器的阻值则可能因而发作改动。

  结晶化进程和内应力铲除进程均随时间推移而减缓,但不可能在电阻器运用期间停止。能够认为在电阻器作业期内这两个进程以近似稳定的速度进行。与它们有关的阻值改动约占原阻值的千分之几。

  电负荷高温老化:任何状况,电负荷均会加快电阻器老化进程,而且电负荷对加快电阻器老化的效果比升高温度的加快老化结果更明显,原因是电阻体与引线帽触摸部分的温升超越了电阻体的均匀温升。一般温度每升高10℃,寿数缩短一半。假如过负荷使电阻器温升超越额外负荷时温升50℃,则电阻器的寿数仅为正常状况下寿数的1/32。可经过不到四个月的加快寿数实验,即可查核电阻器在10年期间的作业稳定性。

  山东11选5开奖结果直流负荷—电解效果:直流负荷效果下,电解效果导致电阻器老化。电解发作在刻槽电阻器槽内,电阻基体所含的碱金属离子在槽间电场中位移,发作离子电流。湿气存在时,电解进程更为剧烈。假如电阻膜是碳膜或金属膜,则首要是电解氧化;假如电阻膜是金属氧化膜,则首要是电解复原。关于高阻薄膜电阻器,电解效果的结果可使阻值增大,沿槽螺旋的一侧可能出现薄膜破坏现象。在潮热环境下进行直流负荷实验,可全面查核电阻器基体资料与膜层的抗氧化或抗复原功能,以及保护层的防潮功能

   
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